M00600 - SEMI M6 - Specification for Silicon Wafers for Use as Photovoltaic Solar Cells Revision:SEMI M6-1108 (Withdrawn 0712) - Withdrawn 慣例単位は参考目的のみのために括弧内に併記され，最も近い数値に丸められてきた。

慣例単位は参考目的のみのために括弧内に併記され，最も近い数値に丸められてきた。

IMMC規定の目的は，装置組込み計測モジュールのオブジェクトベースの仕様を示すことである。それと共に，別々のサプライヤによって実装される装置組込み計測モジュールと制御ポート／データポートとの間の標準的なインタフェースもオブジェクトベースで示すことである。このインタフェースにより特定のオブジェクトのプロパティとサービスにアクセスできるようになる。これにより，モジュールをより大きなシステムに組み込む際の労力が低減できる。

which will improve manufacturing efficiency by saving manufacturing cost and time

Contouring the wafer edge reduces the incidence of chipping and minimizes epitaxial edge crown and photoresist edge bead during subsequent processing of the wafer

2  This Test Method shall be used in general FPD production to test the resistance of color filters to light

M00600 - SEMI M6 - Specification for Silicon Wafers for Use as Photovoltaic Solar Cells Revision:SEMI M6-1108 (Withdrawn 0712) - Withdrawn 慣例単位は参考目的のみのために括弧内に併記され，最も近い数値に丸められてきた。NOTICE: This Document was balloted and approved for withdrawal in 2012. It was replaced by SEMI PV22. NOTICE: This Document replaces the previous version of SEMI M6 along with SEMI M6. 1, SEMI M6. 2, SEMI M6. 3, SEMI M6. 4 and SEMI M6. 5 in their entirety. This Specification covers the requirements for silicon wafers for use in photovoltaic (PV) solar cell manufacture. The dimensional characteristics, crystalline defects and commonly used wafer